CTL 决议
标准：IEC 335-1 第2版
条款：第30.3条
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主题：耐漏电起痕
关键词：
- 漏电起痕
1997年第34届会议第16号决议
问题：
漏电流路径不再可能出现从而无需进行耐漏电起痕试验的最低可能条件是什么？
决定：
根据第2.9.4条注1和第8.1.4条，SELV电路和PELV电路无需耐漏电起痕试验。
注释：无